Microscopio estereoscópico Greenough básico para visualización tridimensional Leica S4 E
El microscopio
Leica S4 E con sistema óptico
Greenough y zoom 4,8:1 proporciona un gran
campo visual de hasta 36,5 mm, ideal para inspecciones, montajes y reparaciones (es decir, placas de circuitos).
Las ErgoLens opcionales con distancia de trabajo ajustable ayudan a aumentar la productividad, reducir los errores de inspección relacionados con la fatiga y adquirir un posicionamiento preciso para cada aplicación. Los tubos de observación del microscopio estereoscópico con ángulos de visión ergonómicos de 38° mejoran la comodidad del usuario al trabajar con
luz básica, incidente o transmitida. Su diseño compacto es muy intuitivo. Un
rotador de imágenes opcional permite la observación sencilla de
muestras en 3D en un ángulo de 45°, lo que reduce la manipulación de muestras y mejora los tiempos de inspección.
Sus ventajas
Inspección rápida y precisa
Zoom 4,8:1 con aumento de 6,3x-30x: proporciona un campo visual de hasta 36,5 mm para una inspección rápida y precisa
Garantiza una accesibilidad excelente
Distancia de trabajo estándar de 110 mm: garantiza una excelente accesibilidad a las muestras
Tubos de observación con ángulo de 38°
Tubos de observación con ángulo de 38°: para mejorar la comodidad
Objetivo ergonómico opcional
Objetivo ergonómico opcional con distancia de trabajo ajustable: proporciona comodidad y versatilidad para aplicaciones concretas
Rotador de imágenes opcional
Rotador de imágenes opcional: para una observación en 45°, ideal para tareas de revisión como soldaduras
Documentos
> Microscopio S4 E Leica Microsystems
